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中圖儀器3D顯微形貌粗糙度光學(xué)輪廓儀SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測。

SuperViewW全自動(dòng)3D輪廓儀粗糙度表面形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

SuperViewW光學(xué)摩擦磨損形貌輪廓測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器，它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。

SuperViewW高精度光學(xué)3D輪廓測量儀實(shí)現(xiàn)各種精密器件及材料表面的亞納米級測量。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

SuperViewW光學(xué)3D輪廓儀檢測儀以白光干涉技術(shù)為原理，針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求，其復(fù)合型EPSI重建算法解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。

SuperViewW光學(xué)非接觸式粗糙度3D輪廓儀采用白光干涉技術(shù)，結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法，具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精密器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。