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CHOTEST中圖儀器SJ5800接觸式輪廓儀超高精度衍射光學(xué)測量系統(tǒng)，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達0.1nm，系統(tǒng)殘差小于2nm，一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數(shù)?？梢詫α慵砻娴妮喞取⒉y度、粗糙度實現(xiàn)一次掃描測量。

SuperViewW1光學(xué)三維形貌輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

針對同類型大批量的工件，SJ5700DUAL智能粗糙度輪廓掃描儀能進行CNC模式測量，自動分析處理數(shù)據(jù)，并能將數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計帶有SPC功能，能進行多種方式統(tǒng)計分析；還具有導(dǎo)入CAD圖紙，和輸出PDF功能，可以將理論圖紙與實際檢測尺寸結(jié)果進行比對，特別是一些不規(guī)則的輪廓形狀時，可以提供直觀圖形對比。

SJ5800粗糙度表面輪廓儀集成表面粗糙度和輪廓測量的高精度測量，采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高穩(wěn)定性氣浮隔振系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù)，能實現(xiàn)對球面及非球面光學(xué)元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。

SuperView W1系列光學(xué)輪廓粗糙度測量儀可對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

光學(xué)輪廓儀SuperViewW1集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成Z向聚焦、載物臺平移、找條紋等測量前工作。3D重建算法、精密Z向掃描模塊和光學(xué)干涉技術(shù)組成的測量系統(tǒng)，以及能有效隔離2Hz以上頻率的隔振系統(tǒng)，保證了測量精度和測量重復(fù)性。